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| ブランド名: | RUYA |
| モデル番号: | DT650WK |
| Moq: | 1セット |
| 価格: | 交渉可能 |
| 配達時間: | 3〜4ヶ月 |
| 支払条件: | T/T |
DT650WK ターンテーブルは、MEMS ジャイロスコープの温度特性をテストするために特別に設計された高精度装置です。広い温度範囲での作業環境をシミュレートし、正確な速度制御と連携して、ジャイロスコープの性能を総合的に評価できます。
ターンテーブルは、起動時のゼロバイアス テストと、一定および変動する温度条件下でのバイアス測定をサポートし、モード共振周波数、品質係数、および温度変化によって引き起こされる誤差ドリフト パターンを正確に捕捉し、セグメント化された温度補償アルゴリズムのデータ サポートを提供します。
内蔵の温度制御システムとターンテーブルの同期リンクにより、補償効果を迅速に検証でき、さまざまな温度でのバイアス安定性指数を出力でき、温度周波数特性曲線、バイアス再現性、その他のデータを含む包括的なテストレポートを生成できるため、MEMS ジャイロスコープの環境適応性の最適化効率が大幅に向上します。
| 仕様 | 詳細 |
|---|---|
| 積載重量 | 30kg |
| テーブル直径 | Ф650mm |
| テーブルの平面度 | 0.02mm |
| テーブル振れ | 0.02mm |
| 軸の回転精度 | ±2インチ |
| 角度位置の位置決め誤差 | ±3インチ |
| 角度位置の繰返し位置決め精度 | ±2インチ |
| レート範囲 | ±0.0001°/s～±1000°/s |
| レート精度 | ω≤1°/s: 2×10⁻³ (1°平均) 1°/s≤ω<10°/s: 2×10⁻⁴ (10°平均) ω≥10°/s: 2×10⁻⁵ (360°平均) |
| 最大角加速度 | ≥300°/s² |
| ユーザースリップリング | カスタマイズ可能 |
| 温度範囲 | -55℃～＋85℃ |
| 温度エラー | ±1℃ |
| 温度変動 | ±1℃ |
| 温度均一性 | ±2℃ |
| 最大加熱および冷却速度 | ≧3℃/分 |
| 箱内の寸法 | 750mm×750mm×900mm |
当社のお客様
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| ブランド名: | RUYA |
| モデル番号: | DT650WK |
| Moq: | 1セット |
| 価格: | 交渉可能 |
| パッケージの詳細: | 木製の箱 |
| 支払条件: | T/T |
DT650WK ターンテーブルは、MEMS ジャイロスコープの温度特性をテストするために特別に設計された高精度装置です。広い温度範囲での作業環境をシミュレートし、正確な速度制御と連携して、ジャイロスコープの性能を総合的に評価できます。
ターンテーブルは、起動時のゼロバイアス テストと、一定および変動する温度条件下でのバイアス測定をサポートし、モード共振周波数、品質係数、および温度変化によって引き起こされる誤差ドリフト パターンを正確に捕捉し、セグメント化された温度補償アルゴリズムのデータ サポートを提供します。
内蔵の温度制御システムとターンテーブルの同期リンクにより、補償効果を迅速に検証でき、さまざまな温度でのバイアス安定性指数を出力でき、温度周波数特性曲線、バイアス再現性、その他のデータを含む包括的なテストレポートを生成できるため、MEMS ジャイロスコープの環境適応性の最適化効率が大幅に向上します。
| 仕様 | 詳細 |
|---|---|
| 積載重量 | 30kg |
| テーブル直径 | Ф650mm |
| テーブルの平面度 | 0.02mm |
| テーブル振れ | 0.02mm |
| 軸の回転精度 | ±2インチ |
| 角度位置の位置決め誤差 | ±3インチ |
| 角度位置の繰返し位置決め精度 | ±2インチ |
| レート範囲 | ±0.0001°/s～±1000°/s |
| レート精度 | ω≤1°/s: 2×10⁻³ (1°平均) 1°/s≤ω<10°/s: 2×10⁻⁴ (10°平均) ω≥10°/s: 2×10⁻⁵ (360°平均) |
| 最大角加速度 | ≥300°/s² |
| ユーザースリップリング | カスタマイズ可能 |
| 温度範囲 | -55℃～＋85℃ |
| 温度エラー | ±1℃ |
| 温度変動 | ±1℃ |
| 温度均一性 | ±2℃ |
| 最大加熱および冷却速度 | ≧3℃/分 |
| 箱内の寸法 | 750mm×750mm×900mm |
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